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新款X-MET5000手持XRF光譜儀，滿足各種苛刻的元素分析要求

發(fā)布日期：2008-08-24 瀏覽次數：3793

牛津儀器宣布推出一款堅固的手持式X射線熒光光譜儀(XRF) — X-MET5000，該儀器能夠進行高精度、高可靠性的元素分析。牛津儀器的手持式X射線熒光光譜儀譽滿，X-MET5000是其第四代產品。

這款全新的光譜儀擁有高性能和高可靠性，它綜合了牛津儀器的PentaFET探測器技術，能夠保證所有用戶感興趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素檢測下限。

這款光譜儀專門為各種zui嚴格的質量控制應用而設計，例如金屬廢料回收利用、合金分類鑒定以及玩具和消費產品的含鉛量檢測結果是否符合RoHS指令要求。此外，X-MET5000還能滿足采礦業(yè)的需求，也可在環(huán)境監(jiān)測行業(yè)中用于測定土壤中的重金屬含量。

X-MET5000的主要優(yōu)勢就在于其輕元素處理 (LET) 模式，此模式可允許對重金屬進行快速、準確的分析——即使樣品中存在鋁和硅等輕元素，仍不會影響其分析結果。而其他普通分析儀由于只使用“基本參數（FP）法”，根本無法分析由于輕元素的存在對zui終的分析結果造成的干擾。

這款堅固、可靠的工具通過了IP54 (NEMA 3)認證，具備的防水防塵性能。X-MET5000是惡劣應用環(huán)境的理想選擇。該儀器所配備的電池可持續(xù)使用一個工作日，從而提高了工作效率。

其強大的用戶自定義軟件能夠提供準確的分析結果，從而提高了“合格/不合格”決定的可靠性。X-MET5000能夠識別材料類型，并自動選擇*分析方法。

借助于其可選配的臺式支架，可免除執(zhí)行多分析任務時的手工操作，同時又不會令測量結果的置信水平受到任何影響。

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